Aplikační testy

1) Metalografie

Zhotovení metalografických výbrusů z dodaných vzorků včetně protokolů a fotodokumentace na základě specifických požadavků zákazníků.

Použití metalografické metody (destruktivní zkouška)

Metalografie se uplatňuje jako jedna z rozhodčích technických metod při kontrole kvality a zjištění technických parametrů při výrobě a dalším použití desek s plošnými spoji (dále jen DPS) převážně v elektrotechnickém průmyslu. Základem je zhotovení metalografického výbrusu ze vzorku předaného zákazníkem. Při zadání zakázky je se zákazníkem zároveň konkrétně upřesněn rozsah zkoušek a prokonzultovány další technické detaily týkající se definování požadovaných rovin řezu, zpracování protokolu, nákresů, zhotovení fotodokumentace, termínu dokončení zkoušek, případného odkoupení metalografických výbrusů a dalších specifických požadavků zákazníka.

Přednosti metalografie

1. Kontrola kvality základních plátovaných materiálů (dále jen ZPM).
2. Kontrola stěžejních operací při výrobě DPS (mezioperační a výstupní kontrola kvality).
3. Kontrola technických parametrů v konkrétním místě na základní nebo osazené DPS.
4. Hodnocení defektů vzniklých při výrobě DPS a po osazení elektronickými součástkami.
5. Přesná měření zadaných parametrů s možností zhotovení fotodokumentace.
6. Porovnání kvality nových a použitých DPS v různých provozních zařízeních.
7. Příznivá cena nabízené služby.

Parametry - hlavní oblasti měření

• Struktura ZPM - dutiny, delaminace, skleněné vlákno, kvalita pryskyřice.
• Tloušťka ZPM, ZP mědi (praskliny), žárově nanesené vrstvy pájky (HAL).
• Tloušťka galvanicky nanesených vrstev Cu, Sn, Ni, Au (zaleptání).
• Tloušťka nepájivé masky (nepájivého laku).
• Tloušťka vodičů (podleptání a kovové převisy).
• Kvalita vrtání (otvory s NPO a PO) - přemazy pryskyřice, rozšíření mědi do vnitřních vrstev.
• Kvalita DPS s PO - dutiny, praskliny v pokovení, otřepy, výčnělky, šířka plošky mezikruží, zeslabené pokovení v otvoru.
• Kvalita zapájeného otvoru, kvalita pokovení konektoru.
• Kvalita a poloha zapájených součástek - v otvoru i na DPS.
• Defekty DPS a pájení po osazení součástkami.
• Struktura vodiče po krimpování NPO/PO - nepokovené /pokovené/ otvory.

Fotodokumentace - výrobní a měřicí zařízení

Pro měření požadovaných parametrů je nutno zhotovit metalografický výbrus ze zadaného vzorku DPS (obr.1. - bruska a leštička Metasinex). Prohlédnutí a měření vyleštěné plochy metalografického výbrusu se provádí na metalografickém mikroskopu Neophot 2 (obr.2. - optimální zvětšení 50x až 400x), fotodokumentace je zpracována klasicky (lesklé barevné fotografie 9x13 cm) nebo pomocí digitální kamery DCM 130 při zvětšení 8x až 50x s možností elektronického zaslání zákazníkovi.

2) Měření úrovně nečistot na deskách s plošnými spoji (DPS)

Test stanoví úroveň nečistot na kontrolované DPS měřením vodivosti vodného výluhu dané DPS konduktometrem. Úroveň nečistot se vyjadřuje jako ekvivalent vodivosti roztoku chloridu sodného (NaCl) - tabulková hodnota. Je to takové znečištění, které vyvolá stejnou vodivost vodného roztoku jako odpovídající množství NaCl. Úroveň nečistot se vztahuje na plochu měřené DPS (obě strany), přičemž plocha zástavby (součástek) se neuvažuje. Jednotkou jsou µg NaCl/cm².

ABE.TEC, s.r.o. Vám nabízí tuto službu - změření úrovně nečistot na DPS na zakázku. Desku osazenou plošnými spoji zašlete na adresu ABE.TEC, s.r.o., Průmyslová 387, 530 03 Pardubice spolu s písemnou objednávkou. Výsledky měření jsou zpracovány formou protokolu, přičemž kopie protokolů jsou ve společnosti archivovány.

Parametry:

Co Vám test přinese?

1. Objektivní stanovení čistoty zpracovávaných DPS.
2. Potvrdí či pomůže zajistit zvláštní procesy v rámci systému ISO 9001.

3) Kontrola složení pájecí slitiny

Použitá metoda: Stanovení koncentrace prvků metodou atomové emisní spektrometrie
s indukčně vázaným plazmatem (ICP - OES).

Vzorek je rožpuštěn v lučavce královské a změřen metodou ICP-OES na přístroji Ciros CCD (Spectro). Měření proběhlo metodou kalibrační křivky za použití standardů 0,1, 1 a 10 ppm.

Jsou použity následující vlnové délky:

Ag 328,068 nm
Pb 220,351 nm
Fe 259,940 a 238,204 nm
Cu 324,754 nm
Ni 305,082 nm
P 178,287 nm

Součástí služby je protokol s výsledkem rozboru. Protokol využijete ve svém systému řízení jakosti.