Automatický optický testovací systém (AOI) SI-V100
- CCD kamera 5 Mpx.
- Telecentrický objektiv.
- Bílé, třívrstvé kruhové světlo.
- Vyjímečné kontrolní možnosti ve stolním provedení.
- Rozměry DPS: 50 x 40 mm až 330 x 250 mm.
- Tloušťka DPS: 0,4 až 3,0 mm.
- Sortiment kontrolovaných pouzder SMD: Čtverhranný čip 0603 (0402 ve vysokém rozlišení) a více, válcový čip, tantalový kondenzátor, hliníkový elektrolytický kondenzátor, tranzistor, SOP/QFP (rozteč 0,3 mm a více), konektor, vývody diskrétních součástek, atd.
- Rozlišení: 15.5 µm (standardní rozlišení), 11 µm (vysoké rozlišení – je nutné změnit objektiv, výměna je možná uživatelsky.)
| Příjemná obsluha: |
|---|
|
(1) Přizpůsobení obrazce: Rozhodování o vyhovující/nevyhovující sestavě probíhá na základě předem zachycených obrazů dobrých vzorků. Tím se zkracují ztrátové časy a dosahuje se potřebné rychlosti a přesnosti. |
|
(2) Programování na základě šablony: Pomocí kombinace šablon může operátor zkrátit dobu strávenou sestavováním kontrolních programů. Systém umožňuje i přizpůsobení potřebám uživatele. |
|
(3) Integrovaný počítač: Systém ve svém kompaktním provedení obsahuje počítač, takže operátor může provádět kontroly kdekoliv, prostě připojením k napájecímu zdroji. |
| Charakteristiky: |
|---|
|
CCD kamera 5 Mpix
|
|
Zvětšený pohled:
|
|
Bílé třívrstvé LED nasvícení:
|
|
Knihovna prvků SMD: Uživatelé mohou přizpůsobit algoritmy ve standardní knihovně tak, aby odpovídaly jejich specifickým kontrolním potřebám. Protože uživatel je informován o celé kontrolní logice, systém nabízí skvělou možnost rozšiřování, pokud jde o speciální součástky a součástky založené na nových specifikacích, jež mohou být postupně zaváděny. |
Technická data k porovnání Automatický optický testovací systém (AOI) SI-V100
| Název parametru | Hodnota |
|---|---|
| Šířka | 600 mm |
| Hloubka | 600 mm |
| Výška | 800 mm |
| Software | Windows XP |
| Zorné pole | 36.7x30.8 mm |
| Objektiv | telecentrické čočky |
| Osvětlení | 3vrstvých LED |
| Max. rozměr osazené DPS | 330x250 mm |
| Řídící PC | Integrovaný |
| Velikost SOP / QFP (základní rozlišení) | od rozteče 0,3 mm mm |
| Velikost SMD - chip (vysoké rozlišení) | od 0402 a více |
| Velikost SMD - chip (základní rozlišení) | od 0603 a více |
| Kontrolované prvky | chybějící SMD, OCR, polarita, obrácení, chybějící pájka, můstek, množství pájky atd |
| Výška zástavky DPS | 40 mm |
| Kamera CCD | 5 Mpix |
| Rozlišení (vysoké rozlišení) | 11 µm |
| Rozlišení (základní) | 15.5 µm |
| Zorné pole (vysoké rozlišení) | 26.9x22.6 mm |
| AOI kontrola DPS | malé a střední série |
| Hmotnost | 97 kg |
Prohlédněte si fotografie Automatický optický testovací systém (AOI) SI-V100
Automatický optický testovací systém SI-V100
Systém skládání nasnímaného obrazu.
Systém nasvícení sledovaného objektu.
Kontrola tisku pájecí pasty.
Telecentrický objektiv.
Rychlost kontroly.
Automatický optický testovací systém SI-V100
Vnější rozměry zařízení SI-V100
Přidejte svůj komentář k Automatický optický testovací systém (AOI) SI-V100
